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三维表面形貌仪 SURFIEW500
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量
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三维表面形貌仪
,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。 NanoMap 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.01nm
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三维表面形貌仪
三维表面形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s
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三维表面形貌仪 SURFIEW 2000
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三维表面形貌仪 SURFIEW 4000
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。Premium
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TRACEiT® 便携式表面三维形貌仪
光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头,专用便携式数据采集系统,ipod操作控制系统。zei大测量范围可达标准A4纸,精确度可达100um。 同时,专用软件还可用来进一步评估特定区域内材料表面的性能
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Nanovea ST400三维表面形貌仪
材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。 ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度
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NanoFocus表面三维形貌光学轮廓仪
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL
(Ra):80nmzei小测量粗糙度(Sa):50nm 三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产
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三维形貌仪
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